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- MICROTEST系列原位動態拉伸試驗臺
MICROTEST系(xi)列原位動態拉伸(shen)試驗臺(tai),金屬及(ji)鍍層：用于研究晶粒變化、鍍層結合情況、高溫形變及(ji)松弛機理、晶粒旋轉及(ji)織構變化。復合材(cai)料(liao)：用于研究材(cai)料(liao)韌性及(ji)強度;纖維(wei)：研究材(cai)料(liao)強度
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- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
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- GATAN C1000系列冷臺
GATAN C1000系(xi)列(lie)冷(leng)(leng)臺(tai),包(bao)括冷(leng)(leng)臺(tai)模(mo)塊，制(zhi)(zhi)(zhi)冷(leng)(leng)溫(wen)(wen)度(du)為–185°C 到室(shi)溫(wen)(wen)的C1001，制(zhi)(zhi)(zhi)冷(leng)(leng)溫(wen)(wen)度(du)為-185°C 到 +200°C的C1002，或制(zhi)(zhi)(zhi)冷(leng)(leng)溫(wen)(wen)度(du)為-185°C 到 +400°C的C1003，用于10mm直徑(jing)的樣(yang)品(pin)，氮氣制(zhi)(zhi)(zhi)冷(leng)(leng)，SEM接口(kou)，氣體加壓(ya)閥(fa)，加熱(re)器(qi)，溫(wen)(wen)度(du)傳感器(qi)，標準樣(yang)品(pin)座，以及(ji)數字溫(wen)(wen)度(du)控制(zhi)(zhi)(zhi)器(qi)。
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- Gatan SmartEMIC電子束感應電流測量系統
Gatan SmartEMIC電子(zi)束感應電流(liu)測量系統，可(ke)以實(shi)時(shi)軟件控(kong)制全(quan)自動(dong)采(cai)集電子(zi)束感生電流(liu)（EBIC）信(xin)號(hao)，獲(huo)得EBIC圖(tu)像信(xin)息，還(huan)可(ke)以獲(huo)得IV曲線信(xin)息，終可(ke)以測試PN結位(wei)置，寬度(du)，少子(zi)擴散長度(du)，材料或器件的失效(xiao)點定位(wei)，廣泛應用于(yu)電子(zi)半導體領域。
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- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
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- Monarc 陰極熒光系統
Monarc 陰極熒(ying)光(guang)系統，通過突破性(xing)的(de)光(guang)路設計，Monarc 具有顯(xian)著增加的(de)靈敏(min)度和譜(pu)分(fen)辨率，由此(ci)帶來的(de)*特色的(de)波長-角(jiao)度分(fen)辨能力，使(shi)您能夠進(jin)行更為完整的(de)陰極熒(ying)光(guang)（CL）表(biao)征分(fen)析工(gong)作
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- ALT327 impact-freezer 沖撞冷凍制樣
ALT327 impact-freezer 沖撞冷凍(dong)(dong)制樣(yang), 為 ALTO 冷凍(dong)(dong)掃描電鏡系統(tong)而設計的(de)撞擊(ji)式冷凍(dong)(dong)制樣(yang)設備，提供了樣(yang)品(pin)(pin)載體和(he)樣(yang)品(pin)(pin)載臺，它(ta)們可(ke)以放置(zhi)在 ALTO 2500 冷凍(dong)(dong)工(gong)作站(zhan)或ALTO 1000 的(de)液氮泥加工(gong)站(zhan)中*。
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- Gatan氬離子拋光系統Ilion II 697
Gatan氬離(li)子(zi)拋(pao)光(guang)系(xi)統Ilion II 697，可利用IlionII進行拋(pao)光(guang)加工(gong)的材料(liao)種類十分廣泛，包括由多元(yuan)素組(zu)成的試樣，以及具(ju)有不(bu)同的機械硬度(du)、尺寸和物理特性的合金(jin)、半導(dao)體(ti)材料(liao)、聚合物和礦物等。
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